渦流測(cè)厚儀的測(cè)量原理
更新時(shí)間：2015-12-05
膜厚校正片是渦流測(cè)厚儀的計(jì)量基準(zhǔn)，全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測(cè)，附有檢測(cè)報(bào)告，保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。測(cè)厚儀zui容易損壞的部件是探頭，該儀器對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。探頭線是在日本定做的，這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。
渦流測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器。 重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用，符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957，多次通過國家技術(shù)監(jiān)督部門的性能試驗(yàn)，獲得計(jì)量器具制造許可證。 儀器的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)—膜厚校準(zhǔn)箔片，由遼寧省計(jì)量院檢測(cè)，附有遼寧省計(jì)量院出具的檢測(cè)報(bào)告。儀器在國內(nèi)鋁型材、鋁門窗、技術(shù)監(jiān)督、工程質(zhì)檢等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用，得到用戶的信任與好評(píng)。
鋁型材行業(yè)是使用環(huán)境zui惡劣的，對(duì)膜厚檢測(cè)的要求也zui高，通常要求對(duì)每根型材測(cè)試兩端的膜厚。測(cè)厚儀每天可能測(cè)試上千次。探頭還要時(shí)常受到水或氧化槽液的侵蝕，磕磕碰碰時(shí)有發(fā)生。目前國產(chǎn)渦流測(cè)厚儀有多個(gè)品牌，但是只有天星測(cè)厚儀 ED300 及早期產(chǎn)品 ED200 是可以在這種場(chǎng)合長期使用的。目前幾乎每一家鋁型材廠都在使用天星測(cè)厚儀，而其他國內(nèi)品牌，加上進(jìn)口儀器的總使用量還不及天星儀器的 1/3。以上足以說明天星測(cè)厚儀性能之優(yōu)良。鋁型材行業(yè)用得住的測(cè)厚儀，在其他行業(yè)應(yīng)用應(yīng)該毫無問題。
渦流測(cè)厚儀的測(cè)量原理：
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
渦流測(cè)厚儀采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。
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